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熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM (Pyroelectric Measurement) 本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。 薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃； 塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。

熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement) 本系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。

熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。 包括：熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical conductivity, 塞貝克系數(shù)Seebeck-Coefficient, Harman ZT等隨溫度的變化。

機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer ) 薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)鍵性能，縱向壓電系數(shù)d33和橫向壓電系數(shù)e31被用于表征傳感器和執(zhí)行器的這些關(guān)鍵性能。 縱向壓電系數(shù)可由aixDBLI測(cè)試，而橫向壓電系數(shù)e31就可用aix4PB系統(tǒng)測(cè)試。 通過(guò)必要夾具，可以測(cè)得正向e31和逆向e31。

高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。 壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。 大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過(guò)精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信號(hào)。樣品的微位移同時(shí)通過(guò)激光干涉儀進(jìn)行測(cè)量。

多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR (MagnetoResistive Measurement) 本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。 本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。